課程描述INTRODUCTION
· 產(chǎn)品經(jīng)理· 研發(fā)經(jīng)理· 技術(shù)主管· 測(cè)試經(jīng)理· 品質(zhì)經(jīng)理
日程安排SCHEDULE
課程大綱Syllabus
可測(cè)性設(shè)計(jì)課程
課程背景
測(cè)試是產(chǎn)品從研發(fā)走向生產(chǎn)的必經(jīng)階段,也是決定產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié),如何將測(cè)試工作開(kāi)展的更全面、更仔細(xì)、更專業(yè)完善也是眾多電子通信企業(yè)所追求的目標(biāo)。
建立可測(cè)試性設(shè)計(jì)是開(kāi)發(fā)軟硬件系統(tǒng)的關(guān)鍵,尤其是那些對(duì)工作可靠性要求高的系統(tǒng)。
若沒(méi)有可測(cè)試性設(shè)計(jì),在產(chǎn)品正式使用之前就很難發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷,而且工作中出現(xiàn)的故障也很難檢測(cè)和診斷。
采用可測(cè)試性設(shè)計(jì)可以增加系統(tǒng)的可測(cè)試性,提高產(chǎn)品質(zhì)量,并減少產(chǎn)品投放市場(chǎng)的時(shí)間及測(cè)試費(fèi)用。
課程收益
學(xué)完本課程后,學(xué)員可獲得:
深刻理解可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的基本思想和基本原理
熟悉可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的基本業(yè)務(wù)流程
全面掌握可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的設(shè)計(jì)方法
有效構(gòu)建可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的體系平臺(tái)和貨架技術(shù)
課程大綱
1、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)概述
何謂可靠性?
可靠性管理與質(zhì)量管理
產(chǎn)品生命周期V模型
電子信息產(chǎn)品測(cè)試所面臨的問(wèn)題
什么是可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)
思考:如何深刻理解可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)
可測(cè)性的物理特征表述
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的效益分析
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本要素
IPD模式下的DFT體系結(jié)構(gòu)
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本過(guò)程
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)中常用術(shù)語(yǔ)及縮略語(yǔ)
2、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
整機(jī)研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來(lái)源
整機(jī)研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
單板軟件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來(lái)源
單板軟件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
單板硬件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來(lái)源
單板硬件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
單板生產(chǎn)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來(lái)源
單板生產(chǎn)測(cè)試的抽象模型
※思考:?jiǎn)伟迳a(chǎn)測(cè)試的目的是什么?
單板生產(chǎn)測(cè)試路線
單板生產(chǎn)工藝測(cè)試基本原理
單板生產(chǎn)功能測(cè)試基本原理
單板生產(chǎn)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
討論:本公司各產(chǎn)品適合的生產(chǎn)測(cè)試方案和路線是怎樣的?
JTAG在生產(chǎn)測(cè)試中的應(yīng)用
JTAG在生產(chǎn)測(cè)試中的可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
單板維修可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
思考:本公司生產(chǎn)維修有哪些診斷手段?
3、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本方法
輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試控制物理通道
輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部測(cè)試命令集
輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試控制管理
輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試信息存儲(chǔ)與輸出
輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部?jī)x器輸入輸出接口
內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——差錯(cuò)數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——容限/極限數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——故障數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
能控性設(shè)計(jì)——測(cè)試數(shù)據(jù)源的設(shè)置與啟動(dòng)
能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)配置狀態(tài)監(jiān)控
能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)業(yè)務(wù)狀態(tài)監(jiān)控
能觀性設(shè)計(jì)——單板運(yùn)行狀態(tài)監(jiān)控
能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)資源狀態(tài)監(jiān)控
能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)其它狀態(tài)監(jiān)控
案例解讀
4、單板可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)必須考慮的要素
機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
自檢和自環(huán)設(shè)計(jì)
工裝夾具設(shè)計(jì)
測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)
芯片控制引腳設(shè)計(jì)
邊界掃描測(cè)試設(shè)計(jì)
EPLD/CPLD/FPGA設(shè)計(jì)
如何設(shè)計(jì)以減少測(cè)試點(diǎn)
5、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施步驟
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施障礙
交流與探討:如何構(gòu)建可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)體系和貨架技術(shù)
[本簡(jiǎn)介版權(quán)歸老師所有,僅供合作伙伴與本機(jī)構(gòu)業(yè)務(wù)合作使用,未經(jīng)書面授權(quán)及同意,任何機(jī)構(gòu)及個(gè)人不得向第三方透露]
可測(cè)性設(shè)計(jì)課程
轉(zhuǎn)載:http://szsxbj.com/gkk_detail/295606.html
已開(kāi)課時(shí)間Have start time
- 孫磊
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