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電子元器件培訓(xùn)

適用對象：
電路工程師、測試工程師、系統(tǒng)工程師、技術(shù)經(jīng)理

課程大綱：
第一部分：可靠性設(shè)計
1、可靠性設(shè)計基礎(chǔ)
1.1、可靠性定義
1.2、環(huán)境應(yīng)力分析
1.3、人機交互分析
1.4、關(guān)聯(lián)設(shè)備互動分析
1.5、過渡過程應(yīng)力
1.6、負(fù)載波動分析
1.7、單一故障分析
1.8、工程計算和容差分析
1.9、可靠性故障概率評估
1.10、*失效與偶發(fā)失效的機理

2、電路可靠性問題分析
2.1、應(yīng)力分析（環(huán)境應(yīng)力、人機接口、互聯(lián)設(shè)備）
2.2、系統(tǒng)布局隱患
2.3、接地導(dǎo)致的問題（單點串聯(lián)、單點并聯(lián)）
2.4、防護器件應(yīng)用錯誤（保險絲、TVS、mov、GDT、NTC/PTC電阻）參數(shù)計算、故障機理和措施
2.5、防護器件安裝位置錯誤及機理
2.6、電源紋波、驅(qū)動能力、響應(yīng)時間引起的電路問題
2.7、濾波電路問題
2.8、傳感器及放大電路的阻抗匹配
2.9、運放應(yīng)用參數(shù)選型及頻率特性
2.10、輸出驅(qū)動能力匹配問題
2.11、器件參數(shù)選型計算預(yù)防器件誤差邊緣極限值的小概率事件
2.11、電解電容參數(shù)計算、爆裂、干涸、溫漂等問題
2.12、電感EMC濾波特性與安規(guī)檢測方法問題
2.13、電阻耐壓、負(fù)荷特性曲線、工藝特性問題
2.14、電容參數(shù)計算及失效防護
2.15、復(fù)位電路上電、掉電時序問題
2.16、上拉電阻計算
2.17、信號波形異常調(diào)理
2.18、數(shù)字IC管腳輸入電容對信號質(zhì)量的影響
2.19、AD電路接地問題
2.20、功率開關(guān)管的熱防護及高壓防護
2.21、安裝及焊接粘接工藝
2.22、軟件存儲被刷
2.23、系統(tǒng)架構(gòu)和軟件建構(gòu)缺陷
2.24、軟硬件接口問題（數(shù)據(jù)速率與接口電路、控制信號與硬件過渡過程特性的問題）
2.24、屏蔽線纜的應(yīng)用問題
2.25、人機接口問題
2.26、接口電路問題（光隔電路、CAN總線、485總線、模擬信號傳輸接口電路、濾波）

第二部分：失效分析與預(yù)防
1、電子元器件的幾種常見失效應(yīng)力及失效特征
1.1、瞬態(tài)EOS
1.2、累積性EOS
1.3、ESD
1.4、熱損傷
1.5、力學(xué)損傷
1.6、MSD
1.7、腐蝕
1.8、VH
1.9、過渡過程

2、器件故障分析方法
2.1、目測與鏡檢
2.2、參數(shù)統(tǒng)計分析方法
2.3、IV曲線
2.4、DPA
2.5、X光

3、導(dǎo)致器件故障的設(shè)計及工藝因素
3.1、熱插拔
3.2、接地不良
3.3、設(shè)備互聯(lián)匹配問題
3.4、電感瞬態(tài)過程
3.5、電容瞬態(tài)過程
3.6、潮濕
3.6、氣壓問題
3.7、時間應(yīng)力自然老化

4、常用器件的失效機理與成因
4.1、分立元件常見失效機理及成因
電阻、電容、電感、磁珠、導(dǎo)線
4.2、保護類器件失效機理
保險絲、TVS、壓敏電阻、氣體放電管、NTC電阻和PTC電阻
4.3、IC類器件的常見故障、失效機理及解決措施
閂鎖
信號管腳高壓擊穿
EOS損傷
力學(xué)損傷
潮敏失效
熱損傷
4.4、接口器件
光耦隔離電路、CAN總線、485總線、模擬信號傳輸接口電路、濾波
4.5、二極管三極管
4.6、功率開關(guān)器件
MOSFET、IGBT、功率三極管、繼電器
4.7、按鍵
4.8、線纜接插件
4.9、存儲器件故障機理
存儲器件內(nèi)部結(jié)構(gòu)
存儲器件失效機理

電子元器件培訓(xùn)